电工电子分层实验--集成逻辑门的功能测试
发布时间:2017-06-15 点击次数:次
任务:
一、 完成“与非”门、“或非”门的逻辑功能测试和门控制功能实验,应用逻辑门实现简单的组合逻辑电路。(C类)
(1)完成TTL“与非”门74LS00的逻辑功能及输入输出端电平的测试,将测试结果记录于表1中。
(2)完成CMOS“或非”门CD4001逻辑功能和门的控制功能测试,将逻辑功能测试结果记录于表1中,记录门控制功能实验的输入输出波形。
(3)用1片TTL“与非”门74LS00芯片实现“异或”运算,并进行逻辑功能测试,将测试结果记录于表1中。用“与非”门实现“异或”运算的逻辑表达式为:,逻辑电路图如图1所示。
表1 门电路逻辑功能及“与非”门输入输出电平测试实验结果
图1 用“与非”门实现“异或”运算的电路图
二、 用2片74LS00设计一个能实现“同或”运算的电路,并对电路进行逻辑功能测试,自行列表记录逻辑功能测试结果。(B类)
三、用1片CD4001设计一个能实现“同或”运算的电路,并对电路进行逻辑功能测试,自行列表记录逻辑功能测试结果。(A类)
一、 完成“与非”门、“或非”门的逻辑功能测试和门控制功能实验,应用逻辑门实现简单的组合逻辑电路。(C类)
(1)完成TTL“与非”门74LS00的逻辑功能及输入输出端电平的测试,将测试结果记录于表1中。
(2)完成CMOS“或非”门CD4001逻辑功能和门的控制功能测试,将逻辑功能测试结果记录于表1中,记录门控制功能实验的输入输出波形。
(3)用1片TTL“与非”门74LS00芯片实现“异或”运算,并进行逻辑功能测试,将测试结果记录于表1中。用“与非”门实现“异或”运算的逻辑表达式为:,逻辑电路图如图1所示。
表1 门电路逻辑功能及“与非”门输入输出电平测试实验结果
逻辑关系测试结果 | 输入输出电平测试结果 | ||||||
A | B | A端电平值(V) | B端电平值(V) | 端电平值(V) | |||
0 | 0 | ||||||
0 | 1 | ||||||
1 | 0 | ||||||
1 | 1 |
图1 用“与非”门实现“异或”运算的电路图
二、 用2片74LS00设计一个能实现“同或”运算的电路,并对电路进行逻辑功能测试,自行列表记录逻辑功能测试结果。(B类)
三、用1片CD4001设计一个能实现“同或”运算的电路,并对电路进行逻辑功能测试,自行列表记录逻辑功能测试结果。(A类)